Phase-contrast X-ray imaging techniques 相位對比X光成像技術

Phase-contrast X-ray imaging techniques 相位對比X光成像技術

X光成像為生醫與工業非破壞性檢查之基礎，由於屬高能量電磁波，具有高穿透性與高解析度的優點，但X光對於低原子序物質組成的分辨率不佳是長久以來難以克服的缺點。由於物質的折射率在X光能量範圍中比其衰減係數大上一千倍，相位對比X光技術便是利用X光光子對物質的折射現象進行成像進而提高影像辨識度。

工研院之相位對比X光成像技術可同時取得照射物體所形成相位與衰減資訊，有助於提升組成物質之影像對比同時降低照射劑量。本成像技術可用於生醫與工業領域之非破壞性檢查中對低原子序之物質進行造影。

（a）傳統X光成像；（b）相位對比成相示意圖。相位對比X光成像是將光波通過物體後的強度資訊轉換為量化之折射與繞射資訊

小鼠的（左）傳統X光成像；（右）相位對比成像

承上圖，相位影像對比度提升30%

3DIC TSV的（左）傳統X光成像；（右）相位對比成像

纖維原絲（左）傳統X光成像；（右）相位對比成像， 對比提升2倍